[VIP第1年] 指数:3
一、硅片检测
硅片是太阳能电池片的载体，硅片质量的好坏直接决定了太阳能电池片转换效率的高低，因此需要对来料硅片进行检测。该工序主要用来对硅片的一些技术参数进行在线测量，这些参数主要包括硅片表面不平整度、少子寿命、电阻率、P/N型和微裂纹等。该组设备分自动上下料、硅片传输、系统整合部分和四个检测模块。其中，光伏硅片检测仪对硅片表面不平整度进行检测,同时检测硅片的尺寸和对角线等外观参数；微裂纹检测模块用来检测硅片的内部微裂纹；另外还有两个检测模组，其中一个在线测试[url=]模组[/url]主要测试硅片体电阻率和硅片类型，另一个模块用于检测硅片的少子寿命。在进行少子寿命和电阻率检测之前，需要先对硅片的对角线、微裂纹进行检测，北京太阳能电池片，并自动剔除破损硅片，北京太阳能电池片。硅片检测设备能够自动装片和卸片，北京太阳能电池片，并且能够将不合格品放到固定位置，从而提高检测精度和效率。
漏电原因有很多，以下简单介绍几种：
1. 印刷铝浆时网版的漏浆及承印面感光纸没有及时更换所致；
2. 镀膜面有杂质，印刷时和电极重合，在高温烧结时进入PN结导致漏电；
3. 银浆长期暴露于空气中，印刷过程中有杂质混入；
4. 烧结温度过高或硅片本身制绒过深，烧结时造成烧穿，导致漏电；
5. 硅片传递过程中受到污染；
6. 扩散的P很薄或没有扩散，导致正电极和背电场导通，造成漏电大。
以上为常见几种，还有其它的在生产实践中你会慢慢了解的。
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现在工业生产太阳能电池片的硅片，都是P型衬底，意思是之前已经掺杂三族元素了，我们只需要进行磷扩散，就可以形成P-N结。
以n型半导体为底板结构的结晶硅类太阳能电池与以p型半导体为底板的结构相比，前者对杂质的抵抗性更大，在理论上更易提高能量转换效率。不过，此前许多结晶硅类太阳能电池几乎都采用以p型半导体为底板的结构。原因是在较厚的p型半导体上能够形成非常薄的n型半导体层。
德国弗劳恩霍夫太阳能系统研究所（Fraunhofer ISE）宣布，该机构研制的以n型半导体为底板，然后在其上面形成较薄的p型半导体层的单晶硅太阳能电池，其能量转换效率达到了23.4％。太阳能电池单元面积为2cm见方。
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